簡要描述:BGA、半導體、二極管缺陷X-RAY檢測設備是日聯(lián)科技公司研發(fā)生產,日聯(lián)科技擁有三大系列業(yè)務:SMT應用測試,電池行業(yè)測試和鋁鑄件測試。X-ray檢測可以檢測哪些產品呢?SMT,金屬鑄件零部件,半導體芯片等。對于電子元器件,X-ray可以對IC芯片,PCB印刷電路板,PCBA/SMT/BGA焊點,鋰電池,IGBT半導體,LED/LCD類進行檢測。
品牌 | 日聯(lián)科技 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,食品,農業(yè),能源,電子 |
重量 | 1050KG | 功率 | 1.0KW |
最大檢測尺寸 | 435MM*385MM | 尺寸 | 1080*1180*1730 |
BGA、半導體、二極管缺陷X-RAY檢測設備介紹:
BGA、半導體、二極管缺陷X-RAY檢測設備應用于倒裝芯片檢測,半導體、封裝元器件、鋰電行業(yè),電子元器件、汽車零部件、光伏行業(yè),鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料,陶瓷制品等特殊行業(yè)的檢測。
隨著芯片高密度封裝技術的發(fā)展,給測試技術帶來了新的挑戰(zhàn)與機遇。
為了更好的應對,市面上出現(xiàn)了多次技術創(chuàng)新更迭,而X-RAY檢測技術就是其中之一。
X-RAY檢測是利用X射線穿透原理與探測器接收光斑明暗不一的原理共同協(xié)作,達到檢測產品內部缺陷的目的。
FOL- Wire Bonding引線焊接
Capillary:陶瓷劈刀。W/B 工藝中最核心的-個Bonding Tool,內部頭空心,中間穿上金線,并分別在芯片的Pad和Lead Frame的Lead上形成第一-和第二焊點:
EFO:打火桿。用于在形成第一焊點時的燒球。打火桿打火形成高溫,將外露于Capillary前端的金線高溫熔化成球形,以便在Pad上形成第一焊點(Bond Ball) ;
產品應用:
● pcba焊點檢測(BGA 、CSP 、POP等元器件檢測)
● 電池(極片焊點缺陷檢測、電芯繞卷情況檢測)
● 電子接插件(線束、線纜、插頭等)
● 汽車電子(接插線、儀表盤等檢測)
● 太陽能、光伏(硅片焊點檢測)
● 半導體(封裝元器件檢測)
● LED檢測
● 電子模組檢測
● 陶瓷制品檢測
標準配置:
● 4/2(選配6寸)像增強器和百萬像素數(shù)字相機;
● 90KV5微米的X射線源;
● 簡單的鼠標點擊操作編寫檢測程序;
● 檢測重復精度高;
● 正負60度旋轉傾斜,允許*視角檢測樣;
● 高性能的載物臺控制;
● 超大導航視窗-容易定位和識別不良品;
● 自動BGA檢測程序準確檢測每一個BGA的氣泡,根據(jù)客戶需求進行判定并輸出Excel報表。
安全的檢測設備:
日聯(lián)作為一個有著高度社會責任感的X-Ray設備生產商,首要考慮的就是設備的安全性能。日聯(lián)生產的各系列的X-Ray產品都使用較厚的鉛板、鉛玻璃以及含鉛橡膠,使得產品的X射線量幾乎等同于自然界中的輻射量,也*符合FDA認證標準。
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