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IC半導(dǎo)體元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測(cè)設(shè)備

簡要描述:IC半導(dǎo)體元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測(cè)設(shè)備是日聯(lián)科技公司研發(fā)生產(chǎn),日聯(lián)科技擁有三大系列業(yè)務(wù):SMT應(yīng)用測(cè)試,電池行業(yè)測(cè)試和鋁鑄件測(cè)試。X-ray檢測(cè)可以檢測(cè)哪些產(chǎn)品呢?SMT,金屬鑄件零部件,半導(dǎo)體芯片等。對(duì)于電子元器件,X-ray可以對(duì)IC芯片,PCB印刷電路板,PCBA/SMT/BGA焊點(diǎn),鋰電池,IGBT半導(dǎo)體,LED/LCD類進(jìn)行檢測(cè)。

  • 產(chǎn)品型號(hào):AX7900
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間:2024-09-10
  • 訪  問  量:617
詳細(xì)介紹
品牌日聯(lián)科技價(jià)格區(qū)間20萬-50萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,食品,農(nóng)業(yè),能源,電子
重量1050KG功率1.0KW
最大檢測(cè)尺寸435MM*385MM尺寸1080*1180*1730

IC半導(dǎo)體元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測(cè)設(shè)備介紹:

IC半導(dǎo)體元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測(cè)設(shè)備應(yīng)用于倒裝芯片檢測(cè),半導(dǎo)體、封裝元器件、鋰電行業(yè),電子元器件、汽車零部件、光伏行業(yè),鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料,陶瓷制品等特殊行業(yè)的檢測(cè)。

如何在封裝過程中實(shí)現(xiàn)對(duì)IGBT模塊檢測(cè)、阻斷存在缺陷的IGBT模塊進(jìn)入后序工序,從而降低生產(chǎn)成本、提高產(chǎn)品的質(zhì)量、避免使用存在缺陷的IGBT模塊造成重大損失就成為行業(yè)急需解決的難題。

X-Ray檢測(cè)設(shè)備采用X射線透射原理對(duì)IGBT模塊進(jìn)行檢測(cè),不需要額外成本,檢測(cè)快捷而準(zhǔn)確。當(dāng)X-Ray檢測(cè)設(shè)備透射IGBT模塊時(shí),可以直接觀察到IGBT模塊的內(nèi)部有無氣泡等缺陷,可直接觀察到缺陷的位置。


IC半導(dǎo)體元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測(cè)設(shè)備

產(chǎn)品應(yīng)用:
● pcba焊點(diǎn)檢測(cè)(BGA 、CSP 、POP等元器件檢測(cè))
● 電池(極片焊點(diǎn)缺陷檢測(cè)、電芯繞卷情況檢測(cè))
● 電子接插件(線束、線纜、插頭等)
● 汽車電子(接插線、儀表盤等檢測(cè))
● 太陽能、光伏(硅片焊點(diǎn)檢測(cè))
● 半導(dǎo)體(封裝元器件檢測(cè))
● LED檢測(cè)
● 電子模組檢測(cè)
● 陶瓷制品檢測(cè)

IC半導(dǎo)體元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測(cè)設(shè)備

標(biāo)準(zhǔn)配置:
● 4/2(選配6寸)像增強(qiáng)器和百萬像素?cái)?shù)字相機(jī);
● 90KV5微米的X射線源;
● 簡單的鼠標(biāo)點(diǎn)擊操作編寫檢測(cè)程序;
● 檢測(cè)重復(fù)精度高;
● 正負(fù)60度旋轉(zhuǎn)傾斜,允許*視角檢測(cè)樣;
● 高性能的載物臺(tái)控制;
● 超大導(dǎo)航視窗-容易定位和識(shí)別不良品;
● 自動(dòng)BGA檢測(cè)程序準(zhǔn)確檢測(cè)每一個(gè)BGA的氣泡,根據(jù)客戶需求進(jìn)行判定并輸出Excel報(bào)表。

安全的檢測(cè)設(shè)備:
日聯(lián)作為一個(gè)有著高度社會(huì)責(zé)任感的X-Ray設(shè)備生產(chǎn)商,首要考慮的就是設(shè)備的安全性能。日聯(lián)生產(chǎn)的各系列的X-Ray產(chǎn)品都使用較厚的鉛板、鉛玻璃以及含鉛橡膠,使得產(chǎn)品的X射線量幾乎等同于自然界中的輻射量,也*符合FDA認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。

IC半導(dǎo)體元器件內(nèi)部缺陷X-RAY檢測(cè)設(shè)備

日聯(lián)科技成立于2002年,目前已成為國內(nèi)從事精密X-ray技術(shù)研究和X-ray智能檢測(cè)裝備研發(fā)、制造的國家*企業(yè)。該技術(shù)和裝備廣泛應(yīng)用于LED、SMT 、BGA、CSP、Flip-Chip、IC半導(dǎo)體元器件、連接器、線材、光伏組件、電池、陶瓷制品、及其它電子產(chǎn)品內(nèi)部穿透檢測(cè)等,X-ray 檢測(cè)有高清晰的圖像,同時(shí)具備分析缺陷(例如: 開路,短路,漏焊等)的功能。




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