簡要描述:工業(yè)高分辨率X-RAY三維透視系統(tǒng)檢查機三維工業(yè)CT測量設(shè)備、二維X-Ray無損探傷設(shè)備作為新型X射線真三維成像技術(shù),具有成像效率高、空間分辨率高且各向同性的優(yōu)點,為各行各業(yè)無損檢測提供理想的數(shù)據(jù)源。工業(yè)CT在工業(yè)方面特別是在無損檢測(NDT)與無損評價(NDE),失效分析(FA)與材料分析(MA),尺寸測量(Deimension Measurement)與壁厚分析。
品牌 | 日聯(lián)科技 | 價格區(qū)間 | 50萬-100萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,電子,汽車,電氣,綜合 |
尺寸 | 2080mmX1250mmX1800mm | 重量 | ?2000KG |
測量對象 | 工業(yè) | 操作模式 | 離線式 |
工業(yè)高分辨率X-RAY三維透視系統(tǒng)檢查機在現(xiàn)代制造業(yè)中,非破壞性測試技術(shù)已成為評估和保證產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。其中,工業(yè)CT掃描工業(yè)CT探傷測量設(shè)備Computed Tomography,簡稱工業(yè)CT)因其高精度、高效率和全面性而備受市場青睞。
工業(yè)高分辨率X-RAY三維透視系統(tǒng)檢查機工業(yè)CT探傷測量設(shè)備可以提供高精度的三維內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像,使得更多的材料和零部件可以進(jìn)行非破壞性檢測。與傳統(tǒng)的無損檢測方法相比,如X射線、超聲波和磁粉檢測等,它們只能提供有限的信息。而該產(chǎn)品技術(shù)不僅可以檢測材料的表面缺陷,還能夠準(zhǔn)確地揭示內(nèi)部缺陷,如孔洞、裂紋、氣泡等。這對于制造商來說非常重要,因為他們需要確保生產(chǎn)的產(chǎn)品在使用期間沒有任何潛在缺陷。
其次,該產(chǎn)品在檢測速度方面也比傳統(tǒng)的無損檢測方法更具優(yōu)勢。它可以在較短的時間內(nèi)進(jìn)行大量的掃描,并自動分析和處理數(shù)據(jù)。這樣,制造商可以快速發(fā)現(xiàn)并解決問題,從而提高生產(chǎn)效率和生產(chǎn)線的利用率。
此外,該產(chǎn)品還具有全面性優(yōu)勢。它可以對不同類型的材料和零部件進(jìn)行掃描,如金屬、塑料、陶瓷等。這使得制造商可以使用相同的設(shè)備來檢測不同種類的產(chǎn)品,從而減少了成本和時間。
用于壓鑄、鑄造、鍛造、注塑等多種產(chǎn)業(yè)領(lǐng)域的2D /3D X-Ray 檢查及工業(yè)CT檢查設(shè)備。
通過3D X-Ray檢查,可以更直觀、更明確地掌握樣品內(nèi)部,便于確認(rèn)產(chǎn)品的氣孔及裂紋等缺陷。
通過CT掃描對3D X-Ray檢查中難以發(fā)現(xiàn)的細(xì)微部分進(jìn)行精密分析,分析內(nèi)部結(jié)構(gòu)的體積數(shù)據(jù)。
工業(yè)CT分析設(shè)備要求
1、設(shè)備基本配置
主要由射線源、探測器系統(tǒng)、機械掃描系統(tǒng)、重建及可視化系統(tǒng)等組成。與醫(yī)用CT不同,大多數(shù)工業(yè)CT都是根據(jù)用戶需求進(jìn)行定制化設(shè)計,設(shè)備之間的結(jié)構(gòu)、配置、功能特性、技術(shù)指標(biāo)、軟件等都同。不同射線源和探測器可組成不同的檢測系統(tǒng),如單源單探(如微焦點射線源+線陣探測器)、雙源單探(如常規(guī)射線源和加速器射線源+線陣探測器)、雙源雙探(微焦點射線源和常規(guī)射線源+線陣和面陣探測器)等。射線源-機械掃描系統(tǒng)-探測器系統(tǒng)的組合對工業(yè)CT系統(tǒng)性能起決定作用,它決定了工業(yè)CT檢測試件范圍及可能獲得的信息質(zhì)量;重建及可視化系統(tǒng)是工業(yè)CT系統(tǒng)重要組成部分,它決定了如何在短時間內(nèi)重建出高質(zhì)量的CT圖像。
2、設(shè)備性能指標(biāo)
工業(yè)CT設(shè)備總體性能指標(biāo)主要包括檢測試件范圍、檢測時間、圖像質(zhì)量、缺陷檢測能力等。檢測試件范圍指標(biāo)包括試件材料、尺寸、重量等;檢測時間指標(biāo)包括掃描及重建時間;圖像質(zhì)量指標(biāo)包括空間分辨率、密度分辨率、偽像等;缺陷檢測能力是指發(fā)現(xiàn)氣孔、裂紋等缺陷的能力。
工業(yè)CT設(shè)備總體性能指標(biāo)是由各子系統(tǒng)的配置和性能指標(biāo)所決定的,配置不同,功能特性及性能指標(biāo)也不同。射線源的指標(biāo)包括射線能量、射線強度、焦點尺寸、劑量穩(wěn)定性等;探測器指標(biāo)包括探元尺寸、通道數(shù)量、串?dāng)_等;數(shù)據(jù)采集傳輸系統(tǒng)的指標(biāo)包括信噪比、穩(wěn)定性、動態(tài)范圍、采集速度、一致性等;機械系統(tǒng)指標(biāo)包括試件范圍(重量、尺寸等)、掃描方式(二代、三代或錐束)、掃描軸的定位精度、重復(fù)精度等;重建及可視化系統(tǒng)指標(biāo)包括重建算法、CPU(處理器)運行速度、內(nèi)存大小、圖像處理功能等。另外,工業(yè)CT成像質(zhì)量受射束硬化、散射、掃描及重建參數(shù)等多種因素影響,標(biāo)定、校正和工藝參數(shù)選擇等對最終的圖像質(zhì)量也有很大影響。
工業(yè)CT設(shè)備總體性能指標(biāo)之間通常相互制約,如采用高能直線加速器CT,具有高的射線穿透能力,可以檢測高密度及大尺寸試件,但由于其焦點尺寸通常較大,最終空間分辨率和缺陷檢測能力相對較差。微納焦點CT系統(tǒng)通常有很高的空間分辨率,可以發(fā)現(xiàn)小缺陷,但只能檢測幾毫米的小試樣。
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