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空焊缺陷X-RAY檢測儀

簡要描述:空焊缺陷X-RAY檢測儀是日聯(lián)科技公司研發(fā)生產(chǎn),日聯(lián)科技擁有三大系列業(yè)務(wù):SMT應(yīng)用測試,電池行業(yè)測試和鋁鑄件測試。X-ray檢測可以檢測哪些產(chǎn)品呢?SMT,金屬鑄件零部件,半導(dǎo)體芯片等。對于電子元器件,X-ray可以對IC芯片,PCB印刷電路板,PCBA/SMT/BGA焊點,鋰電池,IGBT半導(dǎo)體,LED/LCD類進(jìn)行檢測。

  • 產(chǎn)品型號:X-RAY檢查機(jī)
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2023-04-28
  • 訪  問  量:391
詳細(xì)介紹
品牌日聯(lián)科技價格區(qū)間20萬-50萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)療衛(wèi)生,食品,農(nóng)業(yè),能源,電子
重量1050KG功率1.0KW
最大檢測尺寸435MM*385MM尺寸1080*1180*1730

空焊缺陷X-RAY檢測儀介紹:

空焊缺陷X-RAY檢測儀應(yīng)用于倒裝芯片檢測,半導(dǎo)體、封裝元器件、鋰電行業(yè),電子元器件、汽車零部件、光伏行業(yè),鋁壓鑄模鑄件、模壓塑料,陶瓷制品等特殊行業(yè)的檢測。

X-ray原理:

X-ray探測就是利用X-ray能穿透物質(zhì)并使其在物質(zhì)中具有衰減的特性來發(fā)現(xiàn)缺陷的非破壞性檢測方法。X-ray的波長很短,通常在0.001~0.1nm之間。X-ray以光速直線傳播,不受電場、磁場的影響,可穿透物質(zhì),在穿透過程中有衰減,可引起薄膜感光。通過X-ray檢測可以發(fā)現(xiàn)許多微小的缺陷,如肉眼無法觀察到的電路橋接,但是對于虛焊的隱患卻很難察覺。因此,企業(yè)會選擇X-ray檢查電路板內(nèi)部的焊接,X-ray可以穿過電路板,掃描到電路板內(nèi)部的圖像,從而判斷產(chǎn)品的完好率,檢測電路板的質(zhì)量。

總結(jié):利用X-ray可以有效地檢測PCB板虛焊、粘連、銅箔脫落等缺陷。市面上的測試設(shè)備必須能*檢測這些缺陷。X-ray檢測設(shè)備是一種不錯的選擇。

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產(chǎn)品應(yīng)用:
● pcba焊點檢測(BGA 、CSP 、POP等元器件檢測)
● 電池(極片焊點缺陷檢測、電芯繞卷情況檢測)
● 電子接插件(線束、線纜、插頭等)
● 汽車電子(接插線、儀表盤等檢測)
● 太陽能、光伏(硅片焊點檢測)
● 半導(dǎo)體(封裝元器件檢測)
● LED檢測
● 電子模組檢測
● 陶瓷制品檢測

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標(biāo)準(zhǔn)配置:
● 4/2(選配6寸)像增強(qiáng)器和百萬像素數(shù)字相機(jī);
● 90KV5微米的X射線源;
● 簡單的鼠標(biāo)點擊操作編寫檢測程序;
● 檢測重復(fù)精度高;
● 正負(fù)60度旋轉(zhuǎn)傾斜,允許*視角檢測樣;
● 高性能的載物臺控制;
● 超大導(dǎo)航視窗-容易定位和識別不良品;
● 自動BGA檢測程序準(zhǔn)確檢測每一個BGA的氣泡,根據(jù)客戶需求進(jìn)行判定并輸出Excel報表。

安全的檢測設(shè)備:
日聯(lián)作為一個有著高度社會責(zé)任感的X-Ray設(shè)備生產(chǎn)商,首要考慮的就是設(shè)備的安全性能。日聯(lián)生產(chǎn)的各系列的X-Ray產(chǎn)品都使用較厚的鉛板、鉛玻璃以及含鉛橡膠,使得產(chǎn)品的X射線量幾乎等同于自然界中的輻射量,也*符合FDA認(rèn)證標(biāo)準(zhǔn)。

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日聯(lián)科技成立于2002年,目前已成為國內(nèi)從事精密X-ray技術(shù)研究和X-ray智能檢測裝備研發(fā)、制造的國家*企業(yè)。該技術(shù)和裝備廣泛應(yīng)用于LED、SMT 、BGA、CSP、Flip-Chip、IC半導(dǎo)體元器件、連接器、線材、光伏組件、電池、陶瓷制品、及其它電子產(chǎn)品內(nèi)部穿透檢測等,X-ray 檢測有高清晰的圖像,同時具備分析缺陷(例如: 開路,短路,漏焊等)的功能。


作為小型器件的BGA近年來,該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電子設(shè)備中QFP封裝器件或PLCC與封裝器件相比,BGA該裝置具有引腳數(shù)量多、引腳間電感和電容小、引腳共面性強(qiáng)、電性能好、散熱性能好等優(yōu)點。盡管如此。BGA設(shè)備有許多優(yōu)點,但仍存在不可改變的缺點:即:BGA焊接完成后,由于所有的點焊都在器件本身的腹部以下,傳統(tǒng)的估計方法既不能觀察和檢測所有點焊的焊接質(zhì)量,也不能應(yīng)用AOI(自動光學(xué)檢測)設(shè)備對點焊外觀進(jìn)行質(zhì)量評價。目前,通用方法均采用。X-RAY檢查設(shè)備對BGA檢查裝置點焊的物理結(jié)構(gòu)。








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