簡要描述:桌面式X射線衍射儀界FRINGE CLASSX射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上,樣品臺位于測角儀中心,基于反射幾何θs-θd,X射線光束在滿足布拉格定律時,在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象,經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線探測器上,最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。
品牌 | 其他品牌 | 角度偏差 | <±0.02° |
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重復性 | 正比計數(shù)探測器、SDD探測器 | 最小步進角度 | -3° - +150° |
發(fā)生器功率 | 600WkW | 價格區(qū)間 | 20萬-50萬 |
儀器種類 | 探測器及其他設備 | 應用領域 | 地礦,能源,電子,制藥,綜合 |
桌面式X射線衍射儀界FRINGE CLASSX射線衍射儀在X射線光束通過索拉狹縫、發(fā)散狹縫照射在樣品上,樣品臺位于測角儀中心,基于反射幾何θs-θd,X射線光束在滿足布拉格定律時,在特定的方向上發(fā)生衍射現(xiàn)象,經(jīng)過防散射狹縫、索拉狹縫、接收狹縫到達X射線探測器上,最終經(jīng)過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)在分析軟件上展現(xiàn)出采集的衍射圖譜。
桌面式X射線衍射儀界FRINGE CLASS是公司自主研發(fā)的一款多功能粉末衍射分析儀器,其融合XRD和計算機軟件等多項技術(shù),可快速對粉末、塊狀或薄膜等形態(tài)的樣品進行主要物相定性、定量分析、晶體結(jié)構(gòu)分析、材料結(jié)構(gòu)分析及結(jié)晶度測定,具有操作簡便、精度高、檢測速度快等特點,為材料研究、生物醫(yī)藥、礦物、塑料制品、半導體等眾多領域提供高精度的分析。
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